反応科学超高圧 走査透過電子顕微鏡 JEM 1000K RS

反応科学超高圧電子顕微鏡は一般的な200kVの電子顕微鏡と比較して非常に厚い試料を透過することが可能です。特にこの装置の大きな特徴として各種ガスによる金属の酸化や触媒反応など化学反応をその場観察できます。

高分解能電子状態計測 走査透過型電子顕微鏡 JEM-ARM200(Cold) (収差補正電子顕微鏡)

照射系球面収差補正装置を搭載した、世界最高のSTEM-HAADF像分解能78pmを有する原子分解能分析電子顕微鏡で、EDSもしくはEELSと兼用すると原子レベルでの元素分析が可能です。

電界放出走査 透過電子顕微鏡 JEM-10000BU (収差補正電子顕微鏡)

照射系と対物系に球面収差補正装置を搭載した、世界最高のTEM/STEM像分解能を有する原子分解能分析電子顕微鏡で、EDSもしくはEELSと兼用すると原子レベルでの元素分析が可能です。

電子分光走査透過電子顕微鏡 EM2100M

加速電圧200kVの電子顕微鏡で、EELS以外に波長分散X線分光器(WDX)が付属している。カソードルミネッセンス(CL)光も計測可能な200kV電子顕微鏡。

電界放出型透過電子顕微鏡 JEM-2100F/HK

電界放出型電子顕微鏡(加速電圧200kV)で、直接倍率としては、TEM機能で150万倍の高分解能観察が可能

走査電子顕微鏡 Quanta200FEG

真空以外に雰囲気を制御しながらSEM観察が可能な走査型電子顕微鏡。EDSによる元素分析や試料マニピュレーション機能がある。

走査電子顕微鏡 JSM-6610A

電子銃/熱電子放出W
TEM点分解能/<50.0nm(SEM像)
分析用検出器/EDS
試料ホルダー/スタンダード、断面観察用

高速加工観察分析装置 MI-4000L (FIB-SEM)

・試料断面観察
・リアルタイムSEM・STEM観察
・リアルタイム3D-EDS
・リアルタイム3D-EBSD

バイオ/無機材料用高速FIB-SEMシステム ETHOS NX5000

・高品位TEM試料作成
・高分解能SEM観察、EDS分析

集束イオンビーム加工機 FB-2100(FIB)

イオン銃に搭載されたGaをイオン化し、サンプルへ集束されたイオンビームとして照射し加工。

ビットマップ加工システム IB-37010 BMS

ビットマップ画像データを利用して、任意形状の加工が可能

アルゴンイオン研磨装置 PIPSⅡ

・薄膜試料作製
・Digital Micrographでの画像取り込み

クロスセクションポリッシャー

試料面上にセットされた遮蔽板にイオンビームを垂直に照射し、イオン照射を受けエッチングされる領域と、社団版で遮断される領域の境界に沿って断面を形成させる試料作製装置です。操作パネルにて試料加工状態を観察できます。

低加速イオン研磨装置 Gentle Mill Model IV5

・基本仕様:加速電圧0.1~2kV
・試料傾斜角:0~45°
・用途:ダメージ層の除去

その他 試料作製装置群

切断、機械研磨、化学研磨、FIB用サンプル加工等、各種装置を取りそろえています。