電界放出型透過電子顕微鏡 JEM-2100F/HK

 電界放出型電子顕微鏡(加速電圧200kV)で、直接倍率としては、TEM機能で150万倍の高分解能観察が可能です(像撮影用CCDカメラは、高視野用と高倍率用の2台が付属)。また、STEM機能とEDS元素分析装置による元素マッピング機能も付属しています。