電子分光走査透過電子顕微鏡 EM2100M

 電子分光走査透過電子顕微鏡 JEM-2100Mにより、EELS,波長分散X線分光(WDX)、 カソードルミネッセンス(CL)が100kから1000kまでの温度範囲で可能です。