　文部科学省マテリアル先端リサーチインフラ事業・名古屋ハブ計測・分析分野では、透過電子顕微鏡を研究に用いることを意図している企業・他大学・研究機関の研究者、技術者、学生等を対象に、電子顕微鏡講習会を下記の要領で実施します。

講義：電子顕微鏡の基礎

日　　時	令和4年9月1日（木）9:30 ～ 15:30
スケジュール	9:30 ～ 11:30 電子顕微鏡概論工学研究科材料デザイン工学専攻山本剛久教授 12:30 ～ 14:00 S/TEM 結像理論未来材料・システム研究所齋藤晃教授 14:00 ～ 15:30 施設S/TEM による化学分析事例の紹介未来材料・システム研究所武藤俊介教授
場　　所	Teamsを用いてオンラインで開催します。受講方法はお申込み頂いた方に後日ご連絡致します
配布物	テキスト希望者は、会期後日に郵送します。住所を所属まで明記してください。
費　　用	なし
申込期限	令和4年　8月31日（水）　12：00まで
申込・問合せ先	ARIM事業　計測・分析分野　担当　中野　まで申込書に1人1枚ずつ御記入の上、E-mailでお申込み下さい。 E-mail nanoplat@nagoya-microscopy.jp

※講習後には、講義の参加報告書（A4一枚、利用目的、研究概要、参加後の研究への活用予定など）のご提出をお願い申し上げます。

実技：講義を受講された希望者のみ　日程は応相談

場　　所	名古屋大学　超高圧電子顕微鏡施設
注意事項	実技講習は日本語で実施します。日本語でのコミュニケーションが困難な方は、通訳が可能な方の同席をお願いします。
費　　用	なし
申込期限	令和4年　9月12日（月）　12：00まで
申込・問合せ先	ARIM事業　計測・分析分野　担当　中野　まで申込書に1人1枚ずつ御記入の上、E-mailでお申込み下さい。 E-mail nanoplat@nagoya-microscopy.jp

※講習後には、講義と実技の参加・利用報告書（A4一枚、利用目的、研究概要、参加後の研究への活用予定など）のご提出をお願い申し上げます。