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電子分光走査透過電子顕微鏡
電子分光走査透過電子顕微鏡 電子分光走査透過電子顕微鏡 JEM-2100Mにより、EELS,波長分散X線分光(WDX)、 カソードルミネッセンス(CL)が100kから1000kまでの温度範囲で可能です。
当施設の設備
反応科学超高圧走査透過電子顕微鏡
収差補正電子顕微鏡(冷電界放出電子銃)
収差補正電子顕微鏡(電界放出電子銃)
電子分光走査透過電子顕微鏡
高分解能分析電子顕微鏡
走査電子顕微鏡

試料作製装置群
高速加工観察分析装置
集束イオンビーム加工機
アルゴンイオン研磨装置
ウルトラミクロトーム
試料作製装置群
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