アクセスお問い合せ English
トップページ 支援の概要 装置一覧 利用報告 支援体制 利用案内
収差補正電子顕微鏡
収差補正電子顕微鏡 電界放出走査透過電子顕微鏡(収差補正電子顕微鏡)JEM-10000BUには、集束レンズ系、結像レンズ系両方に球面収差補正器が組み込まれており、STEM(200kV)・TEM(200kV)共に0.10nmの分解能が得られます。エネルギー分散X線分光(EDX)、EELS、および、電子線ホログラフィーを用いた原子分解能での微小電位観察も可能です。
当施設の設備
反応科学超高圧走査透過電子顕微鏡
収差補正電子顕微鏡(冷電界放出電子銃)
収差補正電子顕微鏡(電界放出電子銃)
電子分光走査透過電子顕微鏡
高分解能分析電子顕微鏡
走査電子顕微鏡

試料作製装置群
高速加工観察分析装置
集束イオンビーム加工機
アルゴンイオン研磨装置
ウルトラミクロトーム
試料作製装置群
| 個人情報保護方針 | リンク | サイトマップ | ページトップ